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Image based computations of lineal path probability distributions for microstructure representation

机译：基于图像的线性路径概率分布的微结构表示计算

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Lineal path probability distributions are statistical descriptors that are useful for microstructure representation. It is shown that complete orientation dependent lineal path probability distributions of any three-dimensional microstructure can be estimated from the two-dimensional vertical sections. A digital image based technique is presented for computation of the direction dependent lineal path probability distributions from the vertical metallographic sections. The technique has been utilized for estimation of the lineal path probabilities in isotropic and anisotropic microstructures of Ti-6Al-4V-1.0B alloys containing TiB whiskers.
机译：线性路径概率分布是可用于微观结构表示的统计描述符。结果表明，可以从二维垂直截面中估计出任何三维微观结构的完全依赖于方向的线性路径概率分布。提出了一种基于数字图像的技术，用于从垂直金相部分计算方向相关的线性路径概率分布。该技术已被用于估计含TiB晶须的Ti-6Al-4V-1.0B合金的各向同性和各向异性微观结构中的线性路径概率。

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