机译:二十面体Al-Pd-Mn中位错运动的透射电镜研究
CEMES-CNRS, BP4345, 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex, France;
quasi-crystals; phason faults; in situ transmition detection microscopy;
机译:透射电子显微镜研究成年二十面体Al-Pd-Mn单晶的位错和扩展缺陷
机译:透射电子显微镜研究塑性变形二十面体Al-Pd-Mn单准晶体
机译:二十面体Al-Pd-Mn单准晶体的位错运动的原位观察
机译:X射线透射形貌,化学刻蚀和透射电子显微镜研究4H SiC中的位错迁移率
机译:硅锗/硅异质结构中位错/缺陷相互作用的原位透射电子显微镜研究。
机译:扫描电子显微镜与透射电子显微镜进行材料特征:高强度钢的比较研究
机译:二十面体Al-Pd-Mn准晶体的五倍表面以及这些表面上的银薄膜的扫描隧道显微镜研究
机译:用透射电子显微镜表征外部晶界位错和晶界位错源。最终报告,1979年6月1日至1981年5月31日