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机译:在室温下将B注入晶体Si中:B缺陷的形成和溶解
MATIS-INFM and Dipartimento di Fisica e Astronomia, Universita di Catania, 64 via S.Sofia, I-95123 Catania, Italy;
B implantation; lattice location; crystalline Si;
机译:Si +注入然后等离子氢化和H +注入结晶硅中结构缺陷形成的比较分析
机译:不同温度下血液植入的缺陷形成和Tb植入Alxga1-Xn膜的光学激活
机译:亚非晶化自植入引起的锗缺陷:形成和溶解
机译:Si〜+植入结构缺陷形成的比较分析,然后血浆氢化和H〜+植入晶体硅
机译:PERI植入物缺陷形态对激光照射期间温度变化的影响
机译:主动MRI植入物引起的温度效应的有限体积分析:2.主动MRI植入物引起热点的缺陷
机译:si +注入然后等离子体氢化和H +注入晶体硅中结构缺陷形成的对比分析