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首页> 外文期刊>Microprocessors and microsystems >ZATPG: SAT-based test patterns generator with zero-aliasing in temporal compaction
【24h】

ZATPG: SAT-based test patterns generator with zero-aliasing in temporal compaction

机译：ZATPG：基于SAT的测试模式生成器，在时间压缩中具有零混淆

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Aliasing in test response compaction is an important source of fault coverage loss. Methods to avoid the aliasing mostly require modification of the compactor to some extent. This can lead to a higher compactor complexity and consequently to higher area overhead, longer signal propagation delays, etc.In contrast to this standard approach, we propose a novel method, the Zero-aliasing ATPG (ZATPG), which is able to reduce the aliasing for any compactor used, thus without need of the compactor modification or redesign. This is achieved by constraining the test pattern generation process (ATPG), so that patterns exhibiting no aliasing are produced directly. Aliasing in both the spatial and temporal compactors is assumed.The method is based on modification of very basic SAT-based ATPG principles, thus any SAT-based ATPG can be used for its purpose. Also, the method is general enough to be applicable to any compactor design.We demonstrate our method on MISR compactors based on LFSR and cellular automata, using the single stuck-at fault model. Our method is able to find a test with zero aliasing and complete fault coverage for smaller compactors than a conventional, unguided ATPG. Thus, the area overhead of the compactor can be reduced, while the complete fault coverage is preserved.
机译：测试响应压缩中的混淆是故障覆盖率损失的重要来源。避免混叠的方法大部分需要对压缩器进行某种程度的修改。与标准方法相比，我们提出了一种新颖的方法，即零混淆ATPG（ZATPG），它可以减少压缩器的复杂度，从而导致较高的压缩开销，并导致更长的信号传播延迟等。对于所使用的任何压实机，都可以使用别名，因此无需修改或重新设计压实机。这是通过限制测试图案生成过程（ATPG）来实现的，因此可以直接生成没有混叠的图案。该方法基于对非常基本的基于SAT的ATPG原理的修改，因此任何基于SAT的ATPG均可用于此目的。同样，该方法具有足够的通用性，可适用于任何压实机设计。我们使用单故障模型，在基于LFSR和元胞自动机的MISR压实机上演示了我们的方法。我们的方法能够找到比常规的，无导引的ATPG较小的压实机，零混叠和完整的故障覆盖率。因此，可以减少压实机的面积开销，同时保留了完整的故障覆盖率。

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