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Parameter identification method for dual-energy X-ray imaging

机译:双能X射线成像的参数识别方法

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摘要

The paper presents a method for parameter identification of dual-energy X-ray imaging. This method is based on pre-calculated or experimentally obtained dependencies between the right sides of the system of two integral parametric equations and two required parameters within the ranges interesting to a customer. This method is characterized by a high processing speed depending on the speed of random access memory. Thus, it is used in different implementations of dual-energy X-ray imaging, namely digital radiography and computed tomography.
机译:本文提出了一种用于双能X射线成像参数识别的方法。该方法基于两个积分参数方程式的系统右侧与客户感兴趣范围内的两个必需参数之间的预先计算或实验获得的相关性。该方法的特征在于取决于随机存取存储器的速度的高处理速度。因此,它被用于双能X射线成像的不同实现中,即数字射线照相和计算机断层扫描。

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