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少量多品種向けの微細化へ模索が始まる

机译:开始寻找小批量和多种产品的小型化

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摘要

EUV露光は,大量生産品を前提とすrnる技術である。少量生産品を主に生産rnする半導体メーカーにとっては,導入にrn必要な資金が巨額すぎるために,EUVrn露光の採用は難しい。筆者は,少量生rn産品の量産向けの20nm台の露光技術rnを模索する情報を知り,少なからず驚いrnた。米国の2009年5月12日付『solid-StaternTbcbnology』(電子版)に掲載された「Arnnew NGL between ArF Immersion and EUVL」と題する寄稿である(図A)。これrnに関連して2009年9月に,電気学会の「リrnソグラフィー極限技術調査専門委員会」rnにおいて,この寄稿と同じ内容に関するrn意見交換がなされたとの情報もある。
机译:EUV曝光是一项以批量生产产品为前提的技术。对于主要生产小批量产品的半导体制造商而言,采用EUVrn敞口非常困难,因为引入所需的资金量太大。作者为获得少量原材料的大规模生产而寻求20 nm级曝光技术的信息感到非常惊讶。这是一篇发表于2009年5月12日在美国的“固态现代TBCbnbology”(电子版)中的标题为“ ArF浸入和EUVL之间的新的NGL”的文章(图A)。与此有关的还有信息,2009年9月,电气工程师学会的“ Rern Sography最终技术调查专家委员会” rn就与该文稿相同的内容交换了意见。

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