机译:电子加速器驱动的紧凑中子源的无损检测设计
Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 Ookayama, Meguro-ku, Tokyo, Japan;
Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 Ookayama, Meguro-ku, Tokyo, Japan;
Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 Ookayama, Meguro-ku, Tokyo, Japan;
Be target; Compact neutron source; Non-destructive assay; Photo-nuclear reaction; S-band electron linac;
机译:中子源的非破坏性act系元素测定
机译:PuBe中子源的定量无损检测
机译:延迟伽马射线在脉冲中子源(等离子体聚焦)辐照〜(235)U的活性无损检测中的应用
机译:使用伽马射线和热中子的机械部件的非破坏性测定
机译:计算机断层扫描技术,用于文化遗产的无损成像:X射线,γ和中子源
机译:使用紧凑的中子源进行室内纹理测量
机译:Riken Accelerator驱动的紧凑型中子源,RAN(RIKEN ACCELERATOR-DRIVINATIVE COMPORT中子源)用于基础设施的非破坏性测试
机译:选择非破坏性测定方法:中子计数或量热测定