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THE METHODOLOGY FOR ACTIVE TESTING OF ELECTRONIC DEVICES UNDER THE RADIATIONS

机译:辐射下电子设备的主动测试方法

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摘要

The methodology, developed for active testing of electronic devices under the radiations, is presented. The test set-up includes a gamma-ray facility, the hardware board/fixtures and the software tools purposely designed and realized. The methodology is so wide-ranging to allow us the verification of different classes of electronic devices, even if only application examples for static random access memory modules are reported.
机译:介绍了为在辐射下对电子设备进行主动测试而开发的方法。测试设置包括伽马射线设备,专门设计和实现的硬件板/固定装置和软件工具。即使只报告了静态随机存取存储器模块的应用示例,该方法学的范围也是如此,以使我们能够验证不同类别的电子设备。

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