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机译:有限孔径的影响以及菲索干涉测量中较高阶的纵向条纹的观测
Helsinki University of Technology Department of Technical Physics FIN-02150 Espoo, Finland;
interferometry; interference wedge; self-imaging; diffraction; finite aperture; walk-off effect;
机译:散斑剪切干涉法中面内位移,双孔径方向和楔形剪切方向对边坡条纹形成的综合影响
机译:双孔散斑剪切干涉法中存在面内位移和应变分量的剪切方向对边坡分布的影响
机译:平面位移和应变分量对双孔径散斑楔形剪切干涉法中斜率条纹分布的影响
机译:高数值孔径球面上Fizeau干涉测量的扩展平均相移方案
机译:基于合成孔径雷达干涉测定的墨西哥城及其周边地质危害评估(INSAR)观察
机译:多色X射线对光栅干涉仪中条纹相移的影响
机译:条纹图案分析傅里叶变换的多光束斐索条纹骨架自动双亮条纹算法