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机译:电子散斑图干涉法中仅使用两个散斑图提高空间条纹分析方法的测量精度
Kansai University, Department of Mechanical Engineering, Faculty of Engineering Science, 3-3-35, Yamate-cho, Suita, Osaka, 564-8680 Japan;
speckle interferometry; high-resolution deformation measurement; electronic speckle pattern interferometry; Fourier analysis; two speckle patterns;
机译:电子散斑干涉法的条纹分析方法,仅使用变形前后的散斑图
机译:基于两相机空间条纹分析法的电子散斑干涉法
机译:用于空间滤波测速的成像斑点图案干涉法中的斑点和边缘动力学
机译:仅使用两个散斑图案的空间边缘分析方法的斑点干涉测量
机译:电子散斑图干涉仪(ESPI)在确定残余应力的钻孔方法中的应用。
机译:去相关斑点图案的相敏干涉法
机译:电子散斑图案干涉法中仅使用两个散斑图案的空间边缘分析方法测量精度的提高