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【24h】

Mid-infrared pump-probe spectroscopy of Si-H stretch modes in porous silicon

机译:多孔硅中Si-H拉伸模式的中红外泵浦探针光谱

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摘要

Using the Dutch free electron laser FELIX, we have investigated vibrational relaxation in free standing porous silicon (p-Si) films. Pump-probe measurements resonant with the SiH, SiH_2 and O_3SiH stretching modes yield temperature dependent measurements of the decay rates which demonstrate that all the modes decay via at least one internal defect mode with the excess vibrational energy distributed among the Si-Si bath phonons in a fourth order decay process.
机译:使用荷兰自由电子激光FELIX,我们研究了独立式多孔硅(p-Si)膜的振动弛豫。与SiH,SiH_2和O_3SiH拉伸模式共振的泵浦探针测量产生衰减率的温度相关测量值,这表明所有模式都通过至少一个内部缺陷模式衰减,并且多余的振动能量分布在Si-Si浴声子之间。四阶衰减过程。

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