...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Optical Materials >Nonlinear optical properties of zinc oxide doped bismuth thin films using Z-scan technique
【24h】

Nonlinear optical properties of zinc oxide doped bismuth thin films using Z-scan technique

机译：使用Z扫描技术的氧化锌掺杂铋薄膜的非线性光学性质

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

ZnO doped Bi thin films were grown on glass substrates by spray ultrasonic technique. This paper presents the effect of Bi doping concentration on structural and nonlinear optical properties of zinc oxide thin films. These thin films were characterized by X-ray diffractometer technique. XRD analysis revealed that the ZnO:Bi thin films indicated good preferential orientation along c-axis perpendicular to the substrate. The nonlinear optical properties such as nonlinear absorption coefficient (beta) and third order nonlinear susceptibility (Im chi((3))) are investigated. The calculations have been performed with a Z scan technique using Nd:YAG laser emitting 532 nm. The reverse saturable absorption (RSA) mechanism was responsible for the optical limiting effect. The results suggest that this material considered as a promising candidate for future optical device applications. (C) 2015 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：ZnO掺杂的Bi薄膜通过喷雾超声技术在玻璃基板上生长。本文介绍了Bi掺杂浓度对氧化锌薄膜的结构和非线性光学性质的影响。这些薄膜通过X射线衍射仪技术表征。 XRD分析表明，ZnO：Bi薄膜在垂直于衬底的c轴上显示出良好的优先取向。研究了非线性光学特性，例如非线性吸收系数（β）和三阶非线性磁化率（Im chi（（3）））。已经使用发射532 nm的Nd：YAG激光通过Z扫描技术进行了计算。反向饱和吸收（RSA）机制负责光学限制效应。结果表明，该材料被认为是未来光学器件应用的有希望的候选者。 （C）2015 Elsevier B.V.保留所有权利。

著录项

  • 来源
    《Optical Materials》 |2016年第6期|40-44|共5页
  • 作者

    Abed S.; Bouchouit K.; Aida M. S.; Taboukhat S.; Sofiani Z.; Kulyk B.; Figa V.;

  • 作者单位

    Fac Technol Dept Technol 20 Aout 1955 Univ Skikda 21000 Algeria;

    Univ Jijel Lab Energet Appl & Mat Jijel 18000 Algeria;

    Univ Mentouri Dept Phys Fac Sci Lab Thin Films Surfaces & Interface Constantine 25000 Algeria;

    Univ Angers CNRS UMR 6200 LUNAM Univ Lab MOLTECH Anjou 2 Bd Lavoisier F-49045 Angers France|Univ Hassan 2 ENS Lab Mat Engn & Biosci Casablanca Morocco;

    Ibn Tofail Univ Fac Sci LOPCM Lab Kenitra Morocco;

    Univ Angers CNRS UMR 6200 LUNAM Univ Lab MOLTECH Anjou 2 Bd Lavoisier F-49045 Angers France;

    Univ Naples Federico II Dept Ind Engn Via Claudio 21 I-80125 Naples Italy;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    Zinc oxide; Thin films; Bismuth; Z scan; Spray ultrasonic;

    机译：氧化锌薄膜;铋;Z扫描超声波喷涂;

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号