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Tektronix Showcases the Latest in Optical Test Innovation for Datacenter Networking at ECOC 2018

机译：泰克在ECOC 2018上展示了针对数据中心网络的最新光学测试创新技术

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See New Advances in Optical Measurements for 100G, 400G Standards and new solutions for lowering cost of PAM 4 testing Tektronix, a leading worldwide provider of measurement solutions, will showcase the latest in optical test innovation for datacenter networking at ECOC 2018, the largest optical communications exhibition in Europe. Tektronix will be hosting industry experts from leading research and commercial companies to discuss the trends and opportunities for emerging optical communications designs. With 100G moving into production and 400G design efforts in full swing, the test challenges around characterization, verification and debug of both silicon and system designs have never been greater. Tektronix is well positioned to help its customers push the boundaries of higher data rates, emerging standards, and cutting-edge research while reducing time to market with our high-performance solutions.
机译：查看100G，400G标准光学测量的新进展以及降低PAM 4测试成本的新解决方案全球领先的测量解决方案提供商Tektronix将在ECOC 2018上展示用于数据中心网络的最新光学测试创新，ECOC是最大的光学通信在欧洲展览。泰克将接待来自领先研究和商业公司的行业专家，讨论新兴光通信设计的趋势和机遇。随着100G投入生产和400G设计工作全面展开，围绕芯片和系统设计的特性，验证和调试的测试挑战从未如此艰巨。泰克拥有充分的条件来帮助其客户突破更高数据速率，新兴标准和前沿研究的界限，同时通过我们的高性能解决方案缩短上市时间。

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    《Optical Networks WDM》 |2018年第9期|10-11|共2页
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