机译:干涉式合成孔径显微镜和光学相干断层扫描的交叉验证
Beckman Institute for Advanced Science and Technology, Department of Electrical and Computer Engineering,University of Illinois at Urbana-Champaign, 405 North Mathews Avenue, Urbana, Illinois 61801, USA;
机译:干涉式合成孔径显微镜和光学相干断层扫描的交叉验证
机译:干涉式合成孔径显微镜和光学相干断层扫描的交叉验证
机译:干涉合成孔径显微镜的重建:与光学相干断层扫描和数字全息显微镜的比较
机译:干涉合成孔径显微镜:光学相干断层扫描数据的基于物理的图像重建
机译:干涉性合成孔径显微镜
机译:干涉合成孔径显微镜和光学相干断层成像的交叉验证
机译:自动干涉性合成孔径显微镜和用于改进光学相干断层扫描的计算自适应光学