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Does the leakage radiation profile mirror the intensity profile of surface plasmon polaritons?

机译：泄漏辐射轮廓是否反映了表面等离激元极化子的强度轮廓？

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Although the leakage radiation (LR) image intensity is considered to be in proportion to the surface plasmon polaritonn(SPP) intensity at the metal–air interface, it has not been proven experimentally, to the best of our knowledge.nHere we investigate the relationship between the measured LR intensity profile of SPP interference fringes, whichnare produced by two SPP launching gratings, and the simulated SPP intensity. The experimental modulation depthsnagree well with the simulation result of the in-plane electric field component of SPPs, which demonstrates that thenimage intensity in LR microscopy provides the intensity profile of the in-plane component.
机译：尽管泄漏辐射（LR）的图像强度被认为与金属-空气界面处的表面等离激元极化强度（SPP）强度成比例，但据我们所知，尚未进行实验证明。在这里我们研究这种关系测得的由两个SPP发射光栅产生的SPP干涉条纹的LR强度分布与模拟SPP强度之间的关系。实验调制深度与SPP平面内电场分量的模拟结果吻合得很好，这表明LR显微镜中的图像强度提供了平面内分量的强度分布。

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2010年第12期|p.1944-1946|共3页
  • 作者

    Jiayuan Wang Chenglong Zhao and Jiasen Zhang;

  • 作者单位

    Department of Physics and State Key Laboratory for Mesoscopic Physics, Peking University, Beijing 100871, China*Corresponding author: jszhang@pku.edu.cn;

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