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首页> 外文期刊>Optics Letters >Polarization-dependent loss compensation on silicon-wire waveguide tap by complex refractive index of metals
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Polarization-dependent loss compensation on silicon-wire waveguide tap by complex refractive index of metals

机译：金属复数折射率在硅线波导抽头上的偏振相关损耗补偿

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A photodetector can be applied onto a silicon-wire waveguide tap to monitor light signals on waveguides. Tonmeet the complexity of optical integrated circuits, the proposed photodetector would be positioned onto anwafer base instead of being employed and terminated at the edge end of an optical component. Because thensilicon-wire-based optical directional coupler shows an undesirably high level of polarization-dependent lossnon the tap port compared with the primary port, the complex refractive index of the reflective metal layernwas proposed integrated into the direction-changing tap region, made using a 54.7° angle from anisotropicnsilicon wet etching. This structure compensates for the polarization dependent loss of the tapping signalnpower for the primary port monitoring. © 2009 Optical Society of America
机译：可以将光电探测器应用于硅线波导抽头，以监视波导上的光信号。为了应付光学集成电路的复杂性，所提出的光电检测器将被放置在晶片基座上，而不是被采用并终止于光学部件的边缘端。由于基于硅线的光定向耦合器与抽头端口相比，在抽头端口上显示出不希望的高水平的偏振相关损耗，因此建议将反射金属层的复折射率集成到换向抽头区域中，使用与各向异性硅湿法蚀刻成54.7°角。这种结构补偿了用于主端口监视的分接信号功率的极化相关损耗。 ©2009美国眼镜学会

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  • 来源
    《Optics Letters》 |2009年第12期|p.1798-1800|共3页
  • 作者

    Shih-Hsiang Hsu;

  • 作者单位

    Department of Electronic Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, No. 43, Sec. 4,Keelung Road, Taipei, Taiwan (shsu@mail.ntust.edu.tw);

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