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Automatic deconvolution of 4Pi-microscopy data with arbitrary phase

机译：具有任意相位的4Pi显微镜数据的自动反卷积

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摘要

We propose a maximum a posteriori-based method that solves an important practical problem in the deconvolutionnof 4Pi images by simultaneously delivering an estimate of both the object and the unknown phase.nThe method was tested in simulations and on data from both test samples and biological specimen. It generatesnobject estimates that are free from interference artifacts and reliably recovers arbitrary relativenphases. Based on vectorial focusing theory, our theoretical analysis allowed for a simple and efficient implementationnof the algorithm. Taking several 4Pi images at different relative phases of the interfering beamsnis shown to improve the robustness of the approach. © 2009 Optical Society of America
机译：我们提出了一种基于后验极大值的方法，该方法通过同时提供对象和未知相位的估计来解决4Pi图像反卷积中的一个重要实际问题.n该方法已在模拟以及测试样本和生物样本的数据中进行了测试。它生成无干扰伪影的对象估计，并可靠地恢复任意相对相位。基于矢量聚焦理论，我们的理论分析允许该算法的简单有效实现。在干扰光束的不同相对相位处拍摄几张4Pi图像显示改善了该方法的鲁棒性。 ©2009美国眼镜学会

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2009年第22期|p.1-3|共3页
  • 作者

    Giuseppe Vicidomini Stefan W. Hell and Andreas Schönle;

  • 作者单位

    Giuseppe Vicidomini, Stefan W. Hell, and Andreas Schönle*MPI for Biophysical Chemistry, Am Fassberg 11, 37077 Göttingen, Germany*Corresponding author: aschoen@gwdg.de;

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