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Surface antiferromagnetic domain imaging using low-energy unpolarized electrons

机译:使用低能非极化电子的表面反铁磁畴成像

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摘要

We report on the surface antiferromagnetic (AFM) domain imaging of the prototype antiferromagnet NiO( 100) using an electron-microscopy-based laboratory method. Coherently exchange-scattered electrons from the surface AFM lattice are utilized in a low-energy electron microscope to resolve the surface domain structure. Direct comparison with x-ray magnetic linear dichroism photoemission electron microscopy demonstrates a complimentary nature. High surface sensitivity combined with improved spatial resolution of this method enables studying of nanosized magnetic domains in NiO(100) thin films and their thickness-dependent evolution.
机译:我们报告使用基于电子显微镜的实验室方法的原型反铁磁体NiO(100)的表面反铁磁(AFM)域成像。来自表面AFM晶格的相干交换散射电子在低能电子显微镜中被用来解析表面域结构。与X射线磁性线性二向色性光发射电子显微镜的直接比较显示出互补性。高表面灵敏度与改进的空间分辨率相结合的这种方法使得能够研究NiO(100)薄膜中的纳米尺寸磁畴及其厚度依赖的演化。

著录项

  • 来源
    《Physical review》 |2011年第13期|p.132402.1-132402.5|共5页
  • 作者单位

    Surface Physics Division, Saha Institute of Nuclear Physics, 1IAF Bidhannagar, Kolkata 700064, India;

    Surface Physics Division, Saha Institute of Nuclear Physics, 1IAF Bidhannagar, Kolkata 700064, India;

    Surface Physics Division, Saha Institute of Nuclear Physics, 1IAF Bidhannagar, Kolkata 700064, India;

    Sincrotrone Trieste S.C.p.A., Basovizza-Trieste 34012, Italy;

    Sincrotrone Trieste S.C.p.A., Basovizza-Trieste 34012, Italy,Instituto Madrileno de Estudios Avanzados IMDEA Nanociencia, Cantoblanco, 28049 Madrid, Spain;

    Sincrotrone Trieste S.C.p.A., Basovizza-Trieste 34012, Italy;

    Synchrotron SOLE1L, L'Orme des Merisiers, Saint-Aubain-BP 48 91192 Gif-sur-Yvette CEDEX, France;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    antiferromagnetics; low energy electron microscopy (LEEM); surface magnetism;

    机译:反铁磁低能电子显微镜(LEEM);表面磁;

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