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Impact of electrostatic forces in contact-mode scanning force microscopy

机译：静电力在接触模式扫描力显微镜中的影响

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In this contribution we address the question to what extent surface charges affect contact-mode scanning force microscopy measurements. We therefore designed samples where we could generate localized electric-field distributions near the surface as and when required. We performed a series of experiments where we varied the load of the tip, the stiffness of the cantilever and the hardness of the sample surface. It turned out that only for soft cantilevers could an electrostatic interaction between tip and surface charges be detected, irrespective of the surface properties, i.e., basically regardless its hardness. We explain these results through a model based on the alteration of the tip-sample potential by the additional electric field between charged tip and surface charges.
机译：在这一贡献中，我们解决了表面电荷在多大程度上影响接触模式扫描力显微镜测量的问题。因此，我们设计了一些样本，可以在需要时在表面附近生成局部电场分布。我们进行了一系列实验，其中我们改变了尖端的负载，悬臂的刚度和样品表面的硬度。事实证明，仅对于软悬臂，才能够检测到尖端和表面电荷之间的静电相互作用，而与表面性质无关，即基本上与硬度无关。我们通过一个模型来解释这些结果，该模型基于带电的尖端和表面电荷之间的附加电场对尖端样本电势的变化。

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