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Fidelity approach to the Hubbard model

机译：哈伯德模型的保真度方法

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We use the fidelity approach to quantum critical points to study the zero-temperature phase diagram of the one-dimensional Hubbard model. Using a variety of analytical and numerical techniques, we analyze the fidelity metric in various regions of the phase diagram with particular care to the critical points. Specifically we show that close to the Mott transition, taking place at on-site repulsion U=0 and electron density n=1, the fidelity metric satisfies an hyperscaling form which we calculate. This implies that in general, as one approaches the critical point U=0, n=1, the fidelity metric tends to a limit which depends on the path of approach. At half-filling, the fidelity metric is expected to diverge as U~(-4) when U is sent to zero.
机译：我们使用逼真的量子临界点方法来研究一维Hubbard模型的零温度相图。我们使用各种分析和数值技术，特别注意临界点，在相图的各个区域中分析保真度度量。具体来说，我们表明接近保真度跃迁发生在现场排斥U = 0且电子密度n = 1时，保真度指标满足我们计算的超尺度形式。这意味着，通常，随着逼近临界点U = 0，n = 1，保真度度量趋向于一个取决于接近路径的极限。在半填充时，当将U发送到零时，保真度度量值将以U〜（-4）发散。

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