Structural and magnetic properties of Mn-implanted Si

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• 来源
  《Physical review. B, Condensed Matter And Materials Physics》 |2007年第8期|p.085203.1-085203.6|共6页
• 作者

  Shengqiang Zhou; K. Potzger; Gufei Zhang; A. Muecklich; F. Eichhorn; N. Schell; R. Groetzschel; B. Schmidt; W. Skorupa; M. Helm; J. Fassbender; D. Geiger;

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• 作者单位

  Institute for Ion Beam Physics and Materials Research, Forschungszentrum Rossendorf, POB 510119, 01314 Dresden, Germany;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 固体物理学;
• 关键词

  magnetic semiconductors; rutherford backscattering (RBS), and other methods of chemical analysis; transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.); X-ray diffraction;

  机译：磁性半导体;卢瑟福反向散射（RBS）和其他化学分析方法;透射电子显微镜（TEM）（包括STEM;HRTEM等）;X射线衍射;