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スペクトル制御干渉計測技術(ApreSCI)

机译:光谱控制干扰测量技术(APRESCI)

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摘要

高精密な光学部品の製造において,また,光学システムの組立調整工程において,その検査技術はレーザー技術の開発,発展と共に歩hできた.現在のハイテク産業の発展は,高精細な光学部品の加工技術の向上とともに,それを押し上げてきた検査技術の向上との両輪での発展である.その中で,干渉計測技術は最も要求の厳しい測定タスクを実行する,光学部品の表面形状の性能や透過光による光学結像性能を評価するために,何十年もの間使用されてき.
机译:在制造高精度光学元件中,在光学系统的组装调整过程中,检验技术能够成为他的激光技术和发展的发展。目前的高新技术产业的发展得到了高清处理光学零件随着技术的提高,它是随着一直推进的检测技术的改进的开发。其中,干涉测量技术表现了最苛刻的测量任务,表面形状的性能和透明度它已经使用了几十年来通过光评估光学成像性能。

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