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【24h】

編集後記

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摘要

走査型プローブ顕微鏡(SPM: Scanning Probe Microscope)は,これまでのナノテク研究を支えて広く普及した装置のひとつに数えることができるのではないでしょうか.鋭く尖つた針で試料表面をなぞるという,一見すると単純な操作によって,小さなものを観察する,計測する,加工することができる装置であり,実際に研究でお世話になった(なっている)読者は多いと思います.
机译:迄今为止,扫描探针显微镜(SPM)可以算是支持纳米技术研究的广泛设备之一,似乎可以用尖锐的针头描绘样品表面。然后,它是一种可以通过简单的操作观察,测量和处理小物件的设备,我认为许多读者实际上已经(或正在)研究中。

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