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ステレオ視法によるSEM画像の3次元形状計測および復元

机译:立体视觉的三维形状测量和SEM图像重建

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摘要

マイクロ・ナノメートル領域の微細な構造の観察にはSEM(走rn査型電子顕微鏡)がよく用いられる.SEMは高倍率・高分解能rnで,焦点深度が深いなど優れた点が多い.しかし,通常の観察rnでは高さに関する情報が得られないため,従来は高さを計測しrnたい部分で試料を切断し,その断面を観察する破壊検査が必要rnであった.
机译:SEM(扫描电子显微镜)通常用于观察微米和纳米范围内的精细结构。 SEM具有许多优点,例如高放大倍率,高分辨率rn和深景深。然而,由于不能通过常规观察获得关于高度的信息,因此,常规上,需要破坏性检查来测量高度,在期望部分切割样品并观察横截面。

著录项

  • 来源
    《精密工学会誌》 |2009年第6期|773-777|共5页
  • 作者单位

    茨城大学(茨城県日立市中成沢町 4-12-1);

    茨城大学(現;

    東北日本電気(株));

    茨城大学大学院(現;

    凸版印刷(株));

    茨城大学大学院;

    茨城大学(茨城県日立市中成沢町 4-12-1);

    茨城大学(茨城県日立市中成沢町 4-12-1);

    茨城大学(茨城県日立市中成沢町 4-12-1);

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