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走査型顕微光散乱による微量ゲル状試料のナノ構造解析システムを開発: 高粘度,複雑形状,低速明度の試料でも簡便に非破壊?非接触の定量測定が可能に

机译:通过扫描显微光散射开发了用于痕量凝胶状样品的纳米结构分析系统:即使对于粘度高,形状复杂和低速亮度的样品,也可以轻松进行无损和非接触式定量测量

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摘要

NEDOの産業技術研究助成事業の一環として,rn山形大学大学院理工学研究科の古川英光准教授rnは,ゲル内部の網目構造解析に特化した走査型顕rn微光散乱「SMILS」~*)を利用した微量ゲル状試料のrn構造解析システムの開発に成功した.
机译:作为NEDO工业技术研究补助金的一部分,山形大学大学院理工学研究科的古河秀光教授,是扫描型显微光散射“ SMILS”,专门研究凝胶内部的网络结构分析〜*)我们已经成功地开发了一种用于痕量凝胶样品的rn结构分析系统。

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  • 来源
    《加工技術》 |2010年第5期|P.36|共1页
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