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机译:基于中位数游程长度和预期中位数游程长度的可变样本大小(X)条形图的优化设计
Univ Tunku Abdul Rahman, Dept Phys & Math Sci, Fac Sci, Kampar 31900, Perak, Malaysia;
Univ Tunku Abdul Rahman, Dept Phys & Math Sci, Fac Sci, Kampar 31900, Perak, Malaysia;
Univ Sains Malaysia, Sch Math Sci, George Town 11800, Malaysia;
Univ Nantes, LUNAM Univ, Dept Qual & Logist, Carquefou, France|IRCCyN UMR CNRS 6597, Carquefou, France;
Univ Tunku Abdul Rahman, Dept Phys & Math Sci, Fac Sci, Kampar 31900, Perak, Malaysia;
average run length; Markov chain; median run length; percentile of the run-length distribution; variable sample size (VSS) (X)over-bar chart;
机译:基于中位数的Runlength和预期中位数运行长度的变形图表的变量示例的替代设计
机译:最佳指数加权移动平均(X)条形图,其估计参数基于中位数运行时间和预期中位数运行时间
机译:基于中位数运行长度和预期中值运行长度的变异系数的侧视敏感合成图的最佳设计
机译:基于预期平均运行长度的可变样本大小EWMA CV图表
机译:累积求和 非参数 多流 过程控制的 基础上 扩展 位数检验 表
机译:基于平均游程长度的双采样X̄图的优化设计以最小化平均样本量
机译:基于中位数游程长度和预期中位数游程长度的可变样本大小Xbar图的优化设计
机译:样本中位数与最大(或最小)订单统计之间的近似独立性的样本大小