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GLOW CURVES FROM BERYLLIUM OXIDE EXPOSED TO HIGH ENERGY HEAVY IONS

机译:氧化铍暴露于高能重离子的辉光曲线

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摘要

Ceramic chips of beryllium oxide were exposed to high energy heavy ion beams He, C, Ne, Ar, and Fe) and the glow curves were analysed. Two comparable peaks at around 203 deg C and 355 deg C were found and each peak height showed a different LET dependence. The low temperature peak height (I_L) increased remarkably with LET to about 10 keV.μm~-and the relative efficiency normalised to that of ~~137Cs γ rays took a maximum factor of 1.3. The high temperature peak height (I_H) decreased almost linearly with the logarithm of LET. The ratio of I_H to I_L decreased exponentially up to 100 keV.μ m~-1. These results show a possibility that the glow curve of BeO can be utilised for the evaluation of radiation quality where high LET particles are mixed, as in space.
机译:将氧化铍陶瓷芯片暴露于高能重离子束He,C,Ne,Ar和Fe)中,并分析辉光曲线。在大约203℃和355℃处发现了两个可比较的峰,每个峰高显示出不同的LET依赖性。低温峰高(I_L)随着LET的增加而显着增加到约10keV。μm〜-归一化为~~ 137Csγ射线的相对效率的最大因数为1.3。高温峰高(I_H)随LET的对数线性下降。 I_H与I_L的比值以指数形式下降至100keV.μm〜-1。这些结果表明,在空间中混合有高LET粒子的情况下,BeO的辉光曲线可用于评估辐射质量的可能性。

著录项

  • 来源
    《Radiation Protection Dosimetry》 |2000年第3期|203-206|共4页
  • 作者

    H.Yasuda; K.Fujitaka;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《化学文摘》(CA);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 TL72;
  • 关键词

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