首页> 外文期刊>电波新闻 >X線シンチレーターパネル東レが耐久性を大幅向上輝度劣化、1/10以下に低ランニングコストでX線検査
【24h】

X線シンチレーターパネル東レが耐久性を大幅向上輝度劣化、1/10以下に低ランニングコストでX線検査

机译:X射线闪烁体面板Toray大大提高了耐用性亮度降解,X射线检查以低运行成本为1/10或更低

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

東レは7日、非破壊検査に用いるX線シンチレーターパネルの耐久性を大幅に向上する新技術の開発に成功したと発表した。同技術を適用したシンチレーターパネルをX線検査機器に用いることで、X線検査のランニングコストを大きく低減することが可能。
机译:Toray于7日宣布,并宣布它成功开发了开发新技术,以显着提高用于无损检测的X射线闪烁板的耐久性。通过使用技术应用于X射线检测设备的闪烁体面板,可以显着降低X射线检测的运行成本。

著录项

  • 来源
    《电波新闻》 |2021年第18133期|5-5|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号