• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>电波新闻 >操作性追求した原子間力顕微鏡日立ハイテク
【24h】

操作性追求した原子間力顕微鏡日立ハイテク

机译：原子力显微镜日立高科技追求可操作性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

日立ハイテクは、研究開発や品質管理用途における操作性を追求し、スループットを向上させた原子間力顕微鏡(AFM)AFM100シリーズの販売を開始した。AFMは、走査プロープ顕微鏡(SPM)の一種で、先端径が数ナノメートルにとがったプローブ(探針)で試料表面を走査し、ナノレベルで試料表面の形状観察と物性マッピング評価を同時に行える。電池材料や半導体·高分子·生体をはじめとする幅広い産業分野での研究開発、品質管理の現場で活用されている。
机译：日立高科技开始销售原子力显微镜（AFM）AFM100系列，可在研发和质量控制应用中追求可操作性和提高吞吐量。 AFM是一种扫描探针显微镜（SPM），并用探针（探针）扫描样品表面，并且可以在纳米级同时进行样品表面的形状观察。 在各种工业领域的研究与开发，包括电池材料，半导体，聚合物和生物学，用于质量控制领域。

著录项

  • 来源
    《电波新闻》 |2021年第18195期|5-5|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号