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東京ウエルズ外観検裝置CMOSイメージセソサー採用処理2倍高速化精度もさらに向上0201サイズ可能に

机译:东京威尔斯CMOS图像传感器采用过程的外观速度加倍可能提高精度0201尺寸

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摘要

東京ウエルズはこれまでのCCDカメラに代えて、CMOSィメージセンサーを採用した電子部品の外観検査装置を開発、製品化した。CMOSの採用により、処理速度を2倍高速化。検査精度をさらに高めた。電子部品外観検査装置はコンデンサ、インダクタ、抵抗、コイル、フィルタ、トランジスタ、ダイオードなどの良否を外観で検査する。
机译:Tokyo Wells已开发并商业化了一种用于电子部件的外观检查设备,该设备使用CMOS图像传感器而不是传统的CCD相机。通过采用CMOS,处理速度提高了一倍。检查精度进一步提高。电子部件外观检查装置对电容器,电感器,电阻器,线圈,滤波器,晶体管,二极管等进行外观检查。

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    《电波新闻》 |2017年第17265期|2-2|共1页
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