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電子機器の信頼性試験評価

机译:电子设备的可靠性测试评估

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摘要

市場の要求品質のレベルアップと軽薄短小、rn環境代替、新技術の投入などを含んだ新商品rnの開発期間の短縮化は、信頼性評価に対し入rn念な評価と早期の判断を要求することになっrnている。信頼性技術はこの要求に応えなけれrnばならない。本稿では如何に故障を炙りだすrnかの観点から筆者が経験した信頼性試験事例rnを中心に紹介する。
机译:缩短新产品的开发周期,包括提高市场所需的质量,轻薄,薄,小,替代环境,引入新技术等,都需要仔细评估和及早判断可靠性评估。我应该做的。可靠性技术必须满足这一需求。本文主要从如何纠正故障的角度介绍了我所经历的可靠性测试案例。

著录项

  • 来源
    《RCJ会報》 |2009年第1期|2-10|共9页
  • 作者

    伊藤 貞則;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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