...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Pomiary Automatyka Kontrola >Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
【24h】

Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

机译：使用XMEGA A微控制器对电子嵌入式系统的模拟部分进行自检

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.%A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K= 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CHO, CHI and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
机译：提出了一种由ATXmega32A4微控制器的硬件资源构建的测量微系统，该系统用作嵌入式测试系统，旨在对嵌入式电子系统的模拟部分进行自测试。自检基于一种诊断方法，在该方法中，被测系统由矩形脉冲激励，其时间响应由微控制器的A / C转换器采样。微控制器计数器设置脉冲持续时间和采样力矩。％本文介绍了一种基于ATXmega32A4微控制器硬件资源的测量微系统，该微系统用作BIST（内置自测试器），用于嵌入式电子系统的模拟部分的自测试。 。自检基于故障方法[5]，其中，一个单方脉冲激励一个被测模拟部分，并通过ADC（模数转换器）对其时间响应进行K次采样（K = 3）（图5）。 1）。微控制器定时器确定方波脉冲的持续时间，并设置ADC的采样时刻。自检方法包括：故障字典创建的预测试阶段（故障字典具有一系列识别曲线的形式（图2）），测量过程和故障分类过程。提议的BIST由一个工作在比较模式下的定时器，一个事件系统和一个微控制器的12位ADC组成（图3）。通道CHA，CHB和CHC生成的计时器比较匹配事件通过事件系统路由到ADC（图7）。它们充分触发了三个ADC通道CHO，CHI和CH2的测量（图4）。通道CHD比较匹配事件用于设置激励脉冲的持续时间。 BIST根据测量程序工作，其时序如图5所示，其算法如图6所示。与以前的解决方案相比，该解决方案的主要优点是BIST参数更好，测量算法更简单[5-7 ]。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号