Single-ended SRAM with high test coverage and short test time

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• 来源
  《IEEE Journal of Solid-State Circuits》 |2000年第1期|p.114-118|共5页
• 作者

  Chua-Chin Wang; Chi-Feng Wu; Rain-Ted Hwang; Chia-Hsiung Kao;

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• 作者单位

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 一般性问题;基本电子电路;
• 关键词

  CMOS memory circuits; SRAM chips; integrated circuit testing; CMOS chip area; power dissipation; quality control; single-ended SRAM; test coverage; test time;

  机译：CMOS存储电路;SRAM芯片;集成电路测试;CMOS芯片面积;功耗;质量控制;单端SRAM;测试范围;测试时间;