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【24h】

A 2.5-V, 333-Mb/s/pin, 1-Gbit, double-data-rate synchronous DRAM

机译:一个2.5V,333Mb / s /引脚,1Gb双数据速率同步DRAM

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摘要

A double data rate (DDR) at 333 Mb/s/pin is achieved for a 2.5-V,n1-Gb synchronous DRAM in a 0.14-Μm CMOS process. The large density ofnintegration and severe device fluctuation present challenges in dealingnwith the on-chip skews, packaging, and processing technology. Circuitntechniques and schemes of outer DQ and inner control (ODIC) chip with annon-ODIC package, cycle-time-adaptive wave pipelining, andnvariable-stage analog delay-locked loop with the three-input phasendetector can provide precise skew controls and increased tolerance tonprocessing variations. DDR as a viable high-speed and low-voltage DRAMnI/O interface is demonstrated
机译:2.5V,n1-Gb同步DRAM以0.14μmCMOS工艺实现了333 Mb / s / pin的双倍数据速率(DDR)。集成的高密度和严重的器件波动为应对片上偏斜,封装和加工技术提出了挑战。具有非ODI封装的外部DQ和内部控制(ODIC)芯片的电路技术和方案,具有周期时间适应性的波流水线技术以及具有三输入相位检测器的可变级模拟延迟锁定环可以提供精确的偏斜控制和更大的容错度变化。演示了DDR作为可行的高速低压DRAMnI / O接口

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