Evaluation of voltage vs. pulse width modulation and feedback during set/reset verify-programming to achieve 10 million cycles for 50 nm HfO_2 ReRAM

著录项

• 来源
  《Solid-State Electronics》 |2014年第1期|67-73|共7页
• 作者

  Kazuhide Higuchi; Ken Takeuchi; Tomoko Ogura Iwasaki;

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• 作者单位

  Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo, Tokyo 113-8656, Japan;

  Chuo University, Korakuen Campus Bldg #2 1-13-27 Kasuga, Bunkyo-ku, Tokyo 112-8551, Japan;

  Chuo University, Korakuen Campus Bldg #2 1-13-27 Kasuga, Bunkyo-ku, Tokyo 112-8551, Japan;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  ReRAM; Program verify; Endurance; Cycling;

  机译：ReRAM;程序验证;耐力;循环;