首页> 外文期刊>Solid state technology >Parametric test system upgrade
【24h】

Parametric test system upgrade

机译:参数测试系统升级

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Supported by the latest version of Keithley Test Environment software (KTE V5.4), the S530 can now be configured for 48-pin full Kelvin switching and with new integrated options for pulse generation, frequency measurements, and low voltage measurements.
机译:通过最新版本的吉时利测试环境软件(KTE V5.4)的支持,S530现在可以配置用于48针全开尔文开关,并具有用于脉冲生成,频率测量和低压测量的新集成选项。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2012年第3期|p.31|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号