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Erweiterte Analysemöglichkeiten

机译:扩展的分析选项

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摘要

Das Schweizer Prüfinstitut Testex, Zürich, hat seine Prüfmöglichkeiten zur Beurteilung von Schadensfällen weiter ausgebaut. Durch die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit energiedispensiver Röntgen-fluoreszenz-Analyse (EDX), ist es nun möglich, einzelne chemische Elemente zu identifizieren. Auch kann der steigenden Nachfrage nach Kaschmir-Analysen mittels REM Rechnung getragen werden. Das Rasterelektronenmikroskop ermöglicht unter anderem das Darstellen von Querschnitt und Oberflächenbeschaffenheit von Fasern, Filamenten und Garnen. Die hohe Schärfentiefe und das Auflösungsvermögen machen ein REM für die Darstellung von Objekten mit strukturierten Oberflächen besonders gut geeignet. Auf dem Bildschirm des REM erscheint ein plastisches, räumliches Bild.
机译:苏黎世的瑞士测试机构Testex进一步扩展了其评估损坏程度的测试选项。通过购买具有能量密集型X射线荧光分析(EDX)的扫描电子显微镜(SEM),现在可以识别单个化学元素。借助SEM也可以考虑对羊绒分析的需求不断增长。扫描电子显微镜可以显示纤维,细丝和纱线的横截面和表面特性。较高的景深和分辨能力使SEM特别适合显示具有结构化表面的对象。三维图像出现在SEM的屏幕上。

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