...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Thin Solid Films >Raman spectroscopy of Culn_(1-X)Ga_xSe_2 for in-situ monitoring of the composition ratio
【24h】

Raman spectroscopy of Culn_(1-X)Ga_xSe_2 for in-situ monitoring of the composition ratio

机译：Culn_（1-X）Ga_xSe_2的拉曼光谱用于原位监测组成比

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Metal organic vapor deposition (MOCVD) is a well known method for preparing high quality and large area Culn_(1-x)Ga_xSe_2 (CIGS) absorber layers. Some in-situ non-contact monitoring systems are needed when CIGS absorber layers are manufactured in industry. In this study, CuInSe_2 (CIS) and CIGS thin films with different composition ratios, [Cu]/[In + Ga], were prepared by MOCVD using [Me_2In(the In-Se single source, Cu, Ga and Se precursors, respectively. The Raman shift spectra of the films with various composition ratios were analyzed to produce a basic algorithm that can determine the composition ratios of CIS and CIGS thin films indirectly.
机译：金属有机气相沉积（MOCVD）是一种用于制备高质量和大面积Culn_（1-x）Ga_xSe_2（CIGS）吸收层的方法。在工业上制造CIGS吸收层时，需要一些原位非接触式监测系统。在这项研究中，使用[Me_2In（In-Se单一来源，Cu，Ga和Se的前体）分别通过MOCVD制备了具有不同组成比[Cu] / [In + Ga]的CuInSe_2（CIS）和CIGS薄膜。分析了不同组成比的薄膜的拉曼位移谱，得出了可以间接确定CIS和CIGS薄膜的组成比的基本算法。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号