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ナノ計測の標準化: 最近の動向とロードマップ

机译：纳米计量学的标准化：最新趋势和路线图

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摘要

ナノテクノロジー（以下ナノテクと略記）に関する国際標準化活動において，我が国は，特に計測（Measurement)と特性評価（Characterization)の分野で主体的な貢献を果してきた.国際標準化機構（ISO)での活動を例にとれば，ナノテクの標準化を扱うTechnical Committee (TC)229設立に際して，計測と特性評価に関するWorking Group (WG)2のConvenerを獲得してリーダーシップを発揮している.また，ナノ構造•素材の計測と特性評価に不可欠な表面化学分析法の標準化を展開するTC201では，幹事国業務を担い国際議長を輩出している.因みに本特集号で取り扱う走査型プローブ顕微鏡（SPM)の標準化は，TC201傘下のSub Committee (SC)9で議論されている.
机译：在与纳米技术（以下简称为纳米技术）有关的国际标准化活动中，日本做出了重大贡献，特别是在测量和表征领域。因此，在建立负责纳米技术标准化的技术委员会（TC）229时，我们已经获得了测量和表征工作组（WG）2召集人的领导，并表现出领导作用。 TC201开发了表面化学分析方法的标准化，这对于表征是必不可少的。TC201已经任命了一位国际主席来负责秘书处的工作。小组委员会（SC）9。

著录项

  • 来源
    《真空》 |2013年第7期|249-251|共3页
  • 作者

    一村信吾;

  • 作者单位

    産業技術総合研究所（〒305-8568　つくば市梅園1-1-1);

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