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用计算机解重叠技术分析不同热处理后的LiF:Mg,Cu,P热释光探测器的发光曲线

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对于ＬｉＦ：Ｍｇ，Ｃｕ，ＰＴＬ材料，当辐射前退火温度高于２４５℃时其发光曲线会发生显著的变化。

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来源
《第八届全国核电子学与核探测技术学术年会》|1996年|154-156|共3页
会议地点
作者
蔡干钢;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类辐射探测技术和仪器仪表;
关键词
热释光探测器;
入库时间 2022-08-17 10:44:23

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