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【24h】

Modeling and Simulation for Particle Radiation Damage to Electronic and Opto-Electronic Devices.

机译:电子和光电子器件粒子辐射损伤的建模与仿真。

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著录项

  • 作者

    Krishna, S.;

  • 作者单位
  • 年度 2018
  • 页码 1-24
  • 总页数 24
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-29 10:46:01

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