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首页> 外文期刊>Journal of Non-Crystalline Solids: A Journal Devoted to Oxide, Halide, Chalcogenide and Metallic Glasses, Amorphous Semiconductors, Non-Crystalline Films, Glass-Ceramics and Glassy Composites >EXAFS study of amorphous Ge2Sb2Te5
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EXAFS study of amorphous Ge2Sb2Te5

机译：非晶态Ge2Sb2Te5的EXAFS研究

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Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) studies of sputtered amorphous pristine thin films of Ge2Sb2Te5 reveal only four of the six possible bond pairs. That is, we find no successful fit to EXAFS data showing Ge-Sb or Te-Te bonds. Furthermore, our data indicate Ge is fully four-fold coordinated (N = 4) while both Sb and Te are over-coordinated with respective N values of 3.3 and 2.4. In Ge-Sb-Te alloys we note that the difference in magnitude of the optical transmissivity between the amorphous and crystalline states of is proportional to the fraction of three-fold coordinated Te. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：溅射的Ge2Sb2Te5原始非晶薄膜的扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）研究表明，六个可能的键对中只有四个。也就是说，我们发现没有成功地拟合出显示Ge-Sb或Te-Te键的EXAFS数据。此外，我们的数据表明Ge完全是四重配位的（N = 4），而Sb和Te都过度配了N，分别为3.3和2.4。在Ge-Sb-Te合金中，我们注意到，非晶态和结晶态之间光透射率的大小差异与三重配位Te的比例成正比。 （c）2006 Elsevier B.V.保留所有权利。

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