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Multiscale electrical contact resistance in clustered contact distribution

机译：簇状接触分布中的多尺度电接触电阻

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For contact between rough surfaces of conductors in which a clustered contact spot distribution is dominant through a multiscale process, electrical contact resistance (ECR) is analysed using a smoothed version of Greenwood's model (Jang and Barber 2003 J. Appl. Phys. 94 7215), which is extended to estimate the statistical distribution of contact spots considering the size and the location simultaneously. The application of this statistical method to a contact spot distribution, generated by the finite element method using a fractal surface defined by the random midpoint displacement algorithm, identifies the effect of the clustered contact distribution on ECR, showing that including a finer scale in the fractal contact surface causes the predicted resistance to approach a finite limit. It is also confirmed that the results are close to that of Barber's analogy (Barber 2003 Proc. R. Soc. Lond. A 459 53) regarding incremental stiffness and conductance for elastic contact.
机译：对于导体的粗糙表面之间的接触（其中聚集的接触点分布通过多尺度过程占主导），使用Greenwood模型的平滑版本分析了电接触电阻（ECR）（Jang and Barber 2003 J. Appl。Phys。94 7215） ，它被扩展为同时考虑大小和位置来估计接触点的统计分布。该统计方法在接触点分布上的应用（通过使用随机中点位移算法定义的分形表面的有限元方法生成的接触点分布）确定了聚集的接触分布对ECR的影响，表明在分形中包含更精细的尺度接触表面会导致预测的电阻接近有限极限。还可以肯定的是，该结果与Barber关于弹性接触的增加的刚度和电导的类比（Barber 2003 Proc。R. Soc。Lond。A 459 53）相近。

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