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Detection limits of an internal-reflection sensor for the optical beam deflection method

机译：光束偏转法的内反射传感器的检出限

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The theoretical detection limit on angle deflection measurement when the quasi-critical internal-reflection method is used is calculated and compared with the more common method of using a bicell position-sensitive detector. Simple formulas for the sensitivity and resolution when the system is shot noise limited are given. It is shown that, even though the bicell detector is potentially much more sensitive for wide and well collimated beams, under typical laboratory restrictions, the internal reflection method may be more sensitive and have better resolution. It is argued that the internal-reflection method may be a tool in developing compact sensors based on the optical beam deflection method. (C) 1997 Optical Society of America.
机译：计算了使用准临界内部反射方法时角度偏转测量的理论检测极限，并将其与使用双单元位置敏感检测器的更常见方法进行了比较。给出了系统受散粒噪声限制时灵敏度和分辨率的简单公式。结果表明，即使Bicell检测器对宽且准直的光束可能更敏感，但在典型的实验室限制下，内部反射方法可能更敏感且具有更好的分辨率。有人认为内部反射法可能是开发基于光束偏转法的紧凑型传感器的工具。 （C）1997年美国眼镜学会。

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