机译:选择光学镀膜生产单色监控策略的统计方法
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机译:间接单色监测在光学镀膜生产中的优势和挑战
机译:高质量光学镀膜生产的设计和监控方法
机译:通过直接光学询问(DOI)现场监测底涂层腐蚀损坏
机译:选择理想的排列策略同时估计全基因组富集的统计意义的困境
机译:用近距离接近IGsO对象避免GEO卫星碰撞的光学监测策略
机译:密度 - 分位数函数法选择位置和尺度参数估计的顺序统计量。