Приведены методы, позволяющие произвести контроль качества покрытия, локализации и визуализации неоднородностей. Решена задача определения геометрических и электрофизических параметров покрытий. Рассмотрена возможность анализа взаимосвязи структурных уровней поверхности с широким диапазоном идентифицируемых значений показателя Гельдера.
展开▼