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高温中性子粉末回折装置の開発とセラミックス材料の結晶構造の研究

机译：高温中子粉衍射仪的研制及陶瓷材料晶体结构研究

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摘要

中性子回折測定用加熱装置の開発と，それを使って得られたセラミックス材料の高温での結晶構造変化の研究例をいくつか報告した。この高温中性子回折システムを利用すれば次のことが可能である。1. 空気孔室温23°C～1，590°Cの広い温度範囲にわたって試料を加熱して中性子回折データを測定することができる。 2. 試料以外からの余分なピークは出現せず，相転移の研究において重要な小さな超格子反射や禁制反射が温度とともにどのように変化するのかを定量的に捉えることがでぎるまた，加熱装置を置くことによってデータの質がほrとhど落ちず，1，550°Cのような高温に試料を保持して測定した中性子回折データのリートベルト解析により結晶構造を調べることが容易にできる。 3. 応用例はしてジルコニア固溶体の112_f反射プロファイルの温度依存性CaTiO_3の相転移の研究を紹介した。 なおここでは触れなかったが，単結晶剛弁装置FOXに本加熱装置をベースにした電気炉を設置すれば単結晶の高温での結晶構造の研究にも応用できる。また，最近ではここで紹介した高温中性子粉末回折システムを用いて，窒化ケイ泉炭化ホウ泉イットリウムタンタル酸塩，イットリウムニオブ酸札生体材料であるリン酸カルシウムなどさまざまな物質について室温～最高1，590°Cの広い温度範囲での結晶構造変化や相転移が明らかにされている。
机译：报道了用于中子衍射测量的加热装置的研制及晶体结构在使用它的高温下的研究。该高温中子衍射系统可用于： 1.含空气孔的室温，样品可以在23°C至1,590°C的宽温度范围内加热以测量中子衍射数据。 2.除了样品之外，没有额外的峰值，非常重要的是定量捕获相位过渡研究中重要的超晶格反射和禁止的反射如何通过放置数据的质量来改变，以及加热设备通过在高温下保持样品如1,550℃，易于测量的中子衍射数据易于找到晶体结构的晶体结构。。 3.应用实例介绍了氧化锆固溶体112_F反射谱的温度依赖性的相变研究。尽管这里未提及，但是通过基于单晶加强件Fox安装电炉，还可以在单​​晶的高温下施加晶体结构。此外，最近，使用本文介绍的高温中子粉末衍射系统，氮化物 - 天花碳碳化碳，钇钽酸盐，钇铌酸卡有机材料，磷酸钙，磷酸钙，含量高达1,590℃。晶体阐明了宽温度范围内的结构变化和相变。

著录项

  • 来源
    《日本结晶学会志》 |2002年第2期|共6页
  • 作者

    八島正知;

  • 作者单位

    東京工業大学大学院総合理工学研究科材料物理科学専攻;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 晶体学;
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