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【24h】

X線ピンポイント構造計測による粉末試料1粒からの単結晶構造解析

机译：通过X射线定位结构测量从一个粉末样品的单晶结构分析

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摘要

放射光による粉末X線構造解析は，合成初期の機能堅物質の多くが粉末や多結晶体であることから急速に進歩しており，現在では結晶および分子の構造を知るために欠かせない手法の1つになっている．しかし，粉末試料からの未知構造決定には，スペクトルデータが一次元に縮退されたことによる構造モデルの任意性の高さなどのため，単結晶構造解析に比べて困難な点が多い．そのため，遺伝郎アルゴリズムのような高度な技術を駆使した解析法の開発が，研究者によって精力的に行われている．一方，放永光の高輝度·低エミッタンスという特色を活かせ犠粉末試料中の結晶1粒を用いて単結晶構造解析が可能となりこれらの問題が解消される．
机译：通过辐射粉末X射线结构分析是迅速的，因为许多合成初始功能刚性物质是粉末和多晶，并且是了解晶体和分子结构的必要方法。 然而，为了确定来自粉末样品的未知结构，与单晶结构分析相比，由于光谱数据将其变得更加尺寸，因此存在许多困难。 因此，使用研究人员能够大致能够通过研究人员在大力下进行分析方法的发展。 另一方面，通过利用使用高亮度和断开光的低射击性的特性，可以使用钠样品中的一个晶体中的单晶结构分析，并且可以消除单晶结构分析。

著录项

  • 来源
    《日本结晶学会志》 |2009年第3期|共4页
  • 作者

    安田伸広; 福山祥光; 金廷恩;

  • 作者单位

    （財）高輝度光科学研究センター利用研究促進部円;

    （財）高輝度光科学研究センター利用研究促進部円;

    （財）高輝度光科学研究センター利用研究促進部円;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 晶体生长;
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