...
首页> 外文期刊>Физика >ОСОБЕННОСТИ ДВУХМАГНОННЫХ ПРОЦЕССОВ РЕЛАКСАЦИИ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНКАХ
【24h】

ОСОБЕННОСТИ ДВУХМАГНОННЫХ ПРОЦЕССОВ РЕЛАКСАЦИИ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНКАХ

机译:纳米晶薄磁膜中二维弛豫工艺的特征

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Численным анализом микромагнитной модели обнаружена ?резонансная? особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f_1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d_(min)-Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~f_1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - ?ряби? намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d_(min) и частоты максимального уширения линии ФМР f_1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.
机译:检测到微磁模型的数值分析?共振?纳米晶薄磁性薄膜放松工艺的特征。在某种频率f_1的情况下,特定于特定频率f_1急剧展大的形式,这取决于薄膜的磁性特性,并且仅在薄膜中观察到,其厚度超过一定的频率阈值D_(min)FMR线的宽度扩大伴随着谐振场的显着位移,并且位移值改变了频率〜F_1的符号。分析地表明,观察到的效果的性质与散射旋转波在准周期性磁性微观结构上的二维过程相关 - ?ryaby?磁化。对于薄膜D_(min)厚度的阈值和FMR线FMP的最大扩展频率的所得到的表达与微磁模型的数值计算的结果很好。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号