Исследуется дифракция рентгеновских лучей в геометрии Лауэ в монокристаллах германия и кремния в случае воздействия на них длинноволновой ультразвуковой упругой деформации, распространяющейся вдоль поверхности образца. Рентгеновский пучок ограничен щелью размером 0.2 мм, много меньшим длины волны ультразвука, что позволяет выделить на кристалле участки с почти однородной деформацией. Соответственно измеренные стробоскопически в разные моменты времени кривые угловой зависимости отраженной интенсивности в двухкристалыюй бездисперсионной схеме почти совпадают с кривыми дифракционного отражения для совершенного кристалла с изменяющимся но времени периодом решетки. При атом интегральные по времени кривые оказываются уширенными при сохранении интегральной интенсивности. Обсуждаются возможные применения развитого метода.
展开▼
